재료 및 표면 프로파일 측정
재료 및 표면 프로파일 측정
소개
재료 및 표면 프로파일 측정은 재료 또는 표면의 물리적 특성을 연구하고 분석하는 것입니다. 특정 용도에 대한 적합성을 평가하기 위해 재료 또는 표면의 표면 거칠기, 질감 및 기타 특성을 측정하는 데 사용됩니다. 이러한 유형의 분석은 제품 개발, 품질 관리 및 기타 제조 및 엔지니어링 분야에서 중요합니다. 표면 거칠기, 질감 및 기타 특성을 측정하는 것 외에도 프로파일 측정은 재료 또는 표면의 두께, 밀도 및 기타 물리적 특성을 측정하는 데 사용될 수 있습니다.
원칙
마이크로 및 나노미터 분해능의 촉각 및 광학 측정은 일반적으로 매우 작은 물체의 크기와 모양을 측정하는 데 사용됩니다. 촉각 측정은 프로브가 물체와 물리적으로 접촉하는 방식이며, 광학 측정은 빛에 의존하여 물체의 이미지를 캡처하는 방식입니다.
촉각 측정은 진원도, 평탄도, 동심도 또는 표면 거칠기와 같은 표면 특징이나 모양을 측정하는 데 가장 적합합니다. 일반적인 기술로는 주사 프로브 현미경, 원자력 현미경, 스타일러스 프로파일 측정 등이 있습니다. 이러한 기술은 물체 표면 위로 이동하는 프로브를 사용하여 물체의 특징을 측정합니다.
광학 측정은 촉각으로 측정하기에는 너무 작은 물체의 크기와 모양을 측정하는 데 가장 적합합니다. 일반적인 기술로는 간섭 현미경, 공초점 현미경, 광학 프로파일 측정이 있습니다. 이러한 기술은 빛을 사용하여 물체의 이미지를 캡처한 다음 이를 처리하여 크기와 모양을 측정할 수 있습니다.
매개변수
- 거칠기
- 3D 지형/매핑
- 매크로 및 마이크로 지오메트리
- 빛의 강도
- 다공성
- 유효 접촉 면적 비율
지형 특성 분석에 사용할 수 있는 기술 장비는 다음과 같습니다:
- UST®-범용 표면 테스터
- Traceit®
- 높이 측정 범위가 100µm인 백색광 간섭계(표면
- DIN EN ISO 25178에 따른 거칠기 특성)
- 공초점 레이저 스캐너(SurfScan)
- 촉각 거칠기 측정기(프로파일로미터, DIN EN ISO 4287에 따른 거칠기 매개변수)
- 원자력 현미경(AFM)
동영상